椭偏仪(angstrom advanced)

主营产品：石英晶体膜厚控制仪 comdel射频电源质量流量计氦质谱检漏仪 AE电源

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	椭圆偏振膜厚测量仪 PHE-101	椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构特性的光学测量设备。可测的样品包括大块材料、薄膜以及在平面基底上生长或沉积的多层结构。多层固体、液体、与固体相邻的液体以及与固体接触的气相等离子体的特性等都可以用这一技术来探测。由于与样品非接触，对样品没有破坏并且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的探测设备。
	太阳能电池专用椭偏仪 ELX Solar Cell Ellipsometer	The EL X is a new discrete wavelength rotating analyzer ellipsometer with many new features suchas Windows software and laser alignment, which make the instrument very quick and easy to use.

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